MTBF測(cè)試也叫壽命試驗(yàn)，是研究產(chǎn)品壽命特征的方法，這種方法可在實(shí)驗(yàn)室模擬各種使用條件來進(jìn)行?？梢詭椭髽I(yè)輕松辦理產(chǎn)品壽命試驗(yàn)。

MTBF測(cè)試是可靠性試驗(yàn)中最重要最基本的項(xiàng)目之一，它是將產(chǎn)品放在特定的試驗(yàn)條件下考察其失效（損壞）隨時(shí)間變化規(guī)律。通過壽命試驗(yàn)，可以了解產(chǎn)品的壽命特征、失效規(guī)律、失效率、平均壽命以及在壽命試驗(yàn)過程中可能出現(xiàn)的各種失效模式。

如結(jié)合失效分析，可進(jìn)一步弄清導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要失效機(jī)理，作為可靠性設(shè)計(jì)、可靠性預(yù)測(cè)、改進(jìn)新產(chǎn)品質(zhì)量和確定合理的篩選、例行（批量保證）試驗(yàn)條件等的依據(jù)。如果為了縮短試驗(yàn)時(shí)間可在不改變失效機(jī)理的條件下用加大應(yīng)力的方法進(jìn)行試驗(yàn)，這就是加速MTBF測(cè)試壽命試驗(yàn)。通過MTBF測(cè)試可以對(duì)產(chǎn)品的可靠性水平進(jìn)行評(píng)價(jià)，并通過質(zhì)量反饋來提高新產(chǎn)品可靠性水平。

在合適工作條件下器件使用壽命期內(nèi)的故障率很低。電子元器件的壽命，與工作溫度是有密切關(guān)系的。以電腦主板上常用的也常出故障的電解電容器為例，其壽命會(huì)受到溫度的影響。因此，應(yīng)盡可能使電容器在較低的溫度之下工作，如果電容器的實(shí)際工作溫度超過了其規(guī)格范圍，不僅其壽命會(huì)縮短，而且電容器會(huì)受到嚴(yán)重的損毀（例如電解液泄漏）。

MTBF測(cè)試計(jì)算方法：

MTBF測(cè)試方法有計(jì)算法，實(shí)驗(yàn)室預(yù)計(jì)測(cè)試法，實(shí)測(cè)法。實(shí)測(cè)法相對(duì)來說測(cè)試要求比較高，對(duì)于樣品數(shù)量、樣品測(cè)試時(shí)間、以及測(cè)試費(fèi)用都比較高。目前MTBF主要應(yīng)用的招投標(biāo)項(xiàng)目都認(rèn)可計(jì)算法和實(shí)驗(yàn)室預(yù)計(jì)測(cè)試法，所以我們市面上通常用的比較多的是計(jì)算法和實(shí)驗(yàn)室預(yù)測(cè)法。