高低溫測(cè)試是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：計(jì)算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測(cè)試負(fù)載等，通過此測(cè)試程序可檢杳出不良品或不良件，是客戶迅速找出問題、解決問題提供有效手段，充分提高客戶生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)。

高溫試驗(yàn)的作用

    高溫試驗(yàn)室的主要功用是對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行高溫試驗(yàn)或溫度變化試驗(yàn)，它可以對(duì)大型或小型大批量電子設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn)。

    電子設(shè)備一般都要進(jìn)行高溫試驗(yàn)和溫度變化試驗(yàn)。高溫試驗(yàn)（包括高溫老化）可以考核電子設(shè)備在高溫環(huán)境條件下貯存、運(yùn)輸和使用的適應(yīng)性，溫度變化試驗(yàn)可以確定電子設(shè)備在貯存、運(yùn)輸和使用期間可能遇到的溫度迅速變化的適應(yīng)性。通過試驗(yàn)可以暴露諸如設(shè)計(jì)、工藝、元器件等方面的缺陷，以便采取適當(dāng)對(duì)策，改進(jìn)產(chǎn)品，提高產(chǎn)品質(zhì)量

    為能正確觀察與驗(yàn)證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應(yīng)，同時(shí)避免因濕度效應(yīng)影響試驗(yàn)結(jié)果，標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。

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高溫條件下試件的失效模式產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時(shí)可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。

高溫試驗(yàn)環(huán)境

　　80±2℃環(huán)境中放置4h,常溫下放置2h后,各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無變形、翹曲、脫膠等異常現(xiàn)象。按鍵凸點(diǎn)高溫下塌以及按力變小不作考核。

　　溫度范圍：10℃～210℃。

　　按GB/T 2423.1—89 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)》;

　　GB/T 2423.22—87 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 溫度變化試驗(yàn)方法》

　　進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。